製剤機械の紹介［３］

紫外線レーザを光源とする
レーザ回折・散乱法によるナノ粒子径の測定

島岡　治夫

要旨
　ナノ粒子は、時間、粒子濃度などによって粒子径の変化を起こしやすい不安定な測定対象である。そこで、ナノ粒子の「粒子径の変化を測定する。」という従来とは異なるコンセプトのもとに、紫外線レーザを光源とし、「レーザ回折・散乱法」を測定原理とする新たなナノ粒子径分布測定装置を開発した。それがSALD-7100である。
　SALD-7100は、波長375nmの紫外線半導体レーザの単一光源と「散乱光の広角度連続検出方式」の光学系を採用し、測定範囲10nm〜300μｍ、最短測定時間1秒、測定可能粒子濃度範囲数ppm〜20％（体積％）を実現している。
　したがって、SALD-7100を用いることによって、今までわからなかったナノ粒子の分散・凝集あるいは溶解等のプロセスを明らかにできるようになった。